雷達物位計ZNTEKPS67雷達物位計ZNTEKPS67雷達物位計ZNTEKPS67 雷達物位計 一、工作原理 雷達物位計發射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統發射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件背轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩定和精確的測量。 即使在存在虛假反射的時候,新的微處理技術和的ECHOFOX-軟件也可以準確地分析出物位回波。 通過輸入容器尺寸,可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調試。 二、產品特點 1.不受溫度和壓力的影響 微波的運行幾乎不受環境溫度和壓力的影響,因此雷達物位計非常適用于復雜的過程條件。過程壓力從真空到160bar,過程溫度-40...400℃,測量沒有問題。 2.不受被測介質特性的影響 更換被測介質的成分或更換整個介質,不會影響測量結果,不需要重新調試。 3.使用頻率 ZNTEK的雷達物位計使用兩種不同的頻率范圍,因此應用范圍可以更廣。K-頻段的儀表的頻率范圍為20GHz以上。通過使用這個頻率范圍,天線可以更小,過程連接也可以更小。由于信號聚焦好,測量系統的精度更高。C-頻段的儀表采用低頻,大約6GHz。在一般情況下,天線系統上粘附介質,污染或介質表面產生泡沫不影響測量。 4.功能的安全穩定性(SIL) 雷達物位計ZNTEKPS61,62,65,67,68和69可以用于對測量安全性有特殊要求的應用。 5.儀表選型 ZNTEKPS60系列雷達物位計可以用于任何應用。我們可以提供不同的天線,這樣就產生不同的發射角、測量范圍和測量特性。正確的儀表選型要根據應用條件。 6.服務維護簡便 由于采用非接觸式測量,ZNTEKPS的服務和維護都非常簡便。 特 征:四氟錐面天線,防腐、防凝結。 應 用:適合食品、醫藥等行業的強腐蝕性液體,或衛生級環境測量。 ZUI大量程:20M 測量精度:±3mm 過程連接:不銹鋼316L喇叭/PTFE振子 天線結構:錐面振子,防凝結物 過程溫度:(-40~150)℃ 過程壓力:(-0.1~1.6)MPa 頻率范圍:26GHz 信號輸出:(4~20)mA/HART 電 源:兩線制/四線制 YB43020DF YB43020BF YB43020F YB4320F YB4330 YB4328 GOS622G XJ2812C XJ2811C Agilent 4263B LCR AV2782 CC2520/A TH2615F TH2617 TH2683 TH2686 TH2776 TH2810D TH2811DLCR TH2816A/17A TH2819A TH2820 LCR TH2821 TH2828 HZ2520 HZ2521 |